产品概述

　　X射线荧光光谱仪是一款高精度、高灵敏度的无损分析仪器，专为材料分析与元素检测设计。它采用先进的XRF技术，能够进行快速、准确的元素分析，并能识别多种元素成分。该设备广泛应用于环境监测、矿产资源、金属材料、电子产品等领域，特别适用于高精度的快速检测和质量控制。凭借其非破坏性检测、快速分析能力和高灵敏度，X射线荧光光谱仪为用户提供了可靠的分析结果，适合大批量样的检测。

　　产品特点

　　非破坏性分析：XRF技术允许对样品进行无损检测，无需破坏样品即可进行成分分析，这对于珍贵或不可再生样品尤为重要。

　　快速分析：XRF分析速度快，可以在几分钟内完成样品的全元素分析，适合快速质量控制和现场测试。

　　广泛的元素检测范围：能够检测从轻元素(如钠、镁)到重元素(如铀)的广泛元素，覆盖周期表中的大部分元素。

　　高灵敏度和准确度：XRF技术具有高灵敏度，能够检测到极低浓度的元素(ppm级别)，并且准确度较高，适合准确分析。

　　技术参数：

　　1、探测器

　　分辨率：2048 × 2048 像素(CMOS探测器)

　　探测面积：4.6 mm × 4.6 mm，适合高分辨率图像分析

　　探测深度：23.5 mm × 15.0 mm

　　2、成分分析精度

　　分析精度：≤ 2 μm

　　成分测量精度：0.5%(测试样品的元素浓度精度)

　　3、扫描速度与分析模式

　　扫描速度：2D成像扫描，≤ 1秒/帧(快速扫描模式)

　　成分分析模式：2D图像分析，快速数据处理，适用于多元素分析

　　4、样品平台

　　较大尺寸：30 mm × 30 mm

　　支持多种样品尺寸和形态，适应不同材料的检测需求

　　5、数据输出与格式

　　输出格式：支持STF、DICOM、JPEG等文件格式

　　数据接口：支持USB连接，便于数据传输与存储

　　6、温度范围

　　样品温度范围：-196°C至100°C(适合多种测试环境)

　　7、设备尺寸与功率

　　外形尺寸：650 mm(L)× 400 mm(W)× 550 mm(H)

　　功率：X射线荧光光谱仪具有低功耗设计，较大功率消耗100W

　　8、安全性

　　安全设计：符合国际安全标准，配备保护装置，确保操作过程中的人员安全。