产品概述

　　全自动探针台是一款高精度的自动化测试设备，专门为微电子和半导体领域设计。该设备采用先进的自动化控制系统，可实现高精度的探针定位和样品操作，广泛应用于集成电路、芯片测试以及材料分析等领域。

　　通过配备高性能CCD相机、自动化控制软件和智能操作界面，全自动探针台提供了精准、高效的测试解决方案，满足了现代科技实验和工业生产的需求。凭借其优异的稳定性和灵活性，成为科研和生产中的重要工具。

　　技术参数：

　　1、光学平台

　　尺寸：60cm × 60cm，适用于多种测试需求配备高清工业级CCD，支持5X、10X、20X、50X长焦倍率

　　2、显微镜系统

　　配备三轴高精度CCD(支持更换CCD，适用于多种光学配置)

　　显微镜系统：标准配置为合并环形照明及背光照明系统，提供清晰的成像效果

　　4、探针台功能

　　升降平台：电动升降，行程可调(0.02–4mm/s)

　　XY轴：电动调节，控制范围为50mm × 50mm，支持360°旋转

　　Z轴：电动调节，较大行程为200mm

　　5、工作平台

　　较大样品尺寸：65mm × 65mm，适应大多数材料和样品类型

　　较大样品重量：4kg

　　6、控制系统

　　支持XBOX控制，软件控制，简化操作流程

　　电气控制：支持自动控制与手动模式切换，适应不同的实验需求

　　7、显示与操作界面

　　配备高清显示屏：780mm × 600mm，支持实时数据监控与显示支持多种软件功能，增强测试的准确性和灵活性

　　8、环境要求

　　温度范围：0°C至40°C

　　湿度范围：≤80% RH